企业简介
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爱德万测试股份有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | TW493081 | 电源供给单元,半导体元件测试装置及半导体元件测试方法 | 2002.07.01 | 一种电源供给单元，供给电压至一电子元件，包括： DC电源(40)，其供给DC电压至该电子元件；至少一 |
| 2 | TW536737 | 电子束产生装置以及电子束曝光装置 | 2003.06.11 | 一种电子束产生装置以及电子束曝光装置，其具有将流经阴极之放射电流仅测出来，并且依据此侦测出的放射电流 |
| 3 | TW200609553 | 光连接器清洁方法、清洁工具、清洁工具单元以及光连接器 | 2006.03.16 | 提供一种光连接器清洁方法系，清洁光连接器之金属环(ferrule)的光连接器清洁方法，包括喷吹阶段及 |
| 4 | TW200622256 | 电源装置以及测试装置 | 2006.07.01 | 本发明提供一种电源装置，其包括：连接电阻，其使电子装置的电源电流供给至电子装置；低通滤波器，其使电流 |
| 5 | TW200821587 | 测量装置以及测量方法 | 2008.05.16 | 本发明提供一种测量装置以及测量方法,可将动作电流测量和静止电流测量高速地进行切换。该测量装置为一种对 |
| 6 | TW200710418 | 测试装置以及测试方法 | 2007.03.16 | 本发明是一种对提供给被测试装置之电源电压的变动进行测试的测试装置，其具备：电源部，其将电源电压提供给 |
| 7 | TW200710417 | 测试装置以及程式 | 2007.03.16 | 本发明提供一种测试装置，其测试被测试元件，此测试装置具备：硬体部，与被测试元件连接，并根据所提供的控 |
| 8 | TW200834779 | 测试装置以及探测卡 | 2008.08.16 | 一种测试装置以及探测卡。该测试装置包括：测试头主体130，与被测试元件200之间进行信号的收发；探针 |
| 9 | TW507271 | 电子束曝光装置、电子束补正方法、电子束曝光方法及半导体元件制造方法 | 2002.10.21 | 一种利用电子束对晶圆曝光的电子束曝光装置，它具有放置晶圆的晶圆台、产生应照射晶圆之曝光电子束的第1电 |
| 10 | TW419898 | 波形产生器,半导体测试元件及半导体元件 | 2001.01.21 | 波形产生电路16包括输入端子28、加总电路21、延迟单元23、处理单元25、记忆单元27及输出端子5 |
| 11 | TW200732684 | 测试装置以及接脚电子卡 | 2007.09.01 | 本发明提供一种测试装置，其包括：驱动器，将测试信号输出至被测试元件中；第1FET开关，切换是否连接驱 |
| 12 | TW200630627 | 测试装置以及电源电路 | 2006.09.01 | 一种测试装置，为一种测试电子元件的测试装置。该测试装置包括：图案生成部，生成用于供给到电子元件的测试 |
| 13 | TW392314 | 用来夹持具有多平行接脚积体电路之积体电路座 | 2000.06.01 | 一种积体电路座，用来夹持具有多平行引入单位与多接脚的积体电路，且每个接脚都包括被弯像垂直于引入单位的 |
| 14 | TW495814 | 使用多轴电子透镜之多束曝光装置,聚集复数个电子束的电子透镜及半导体元件之制造方法 | 2002.07.21 | 一种电子束曝光装置，系利用多个电子束使一晶圆曝光，其包括一多轴电子透镜，而多轴电子透镜包括：多个导磁 |
| 15 | TW200817691 | 机率密度函数分离装置、机率密度函数分离方法、杂讯分离装置、杂讯分离方法、测试装置、测试方法、计算装置、计算方法、程式以及记录媒体 | 2008.04.16 | 本发明提供一种机率密度函数分离装置,自所供给的机率密度函数中分离特定的成分,该机率密度函数分离装置包 |
| 16 | TWI261117 | 测试装置 | 2006.09.01 | 一种进行电子元件之测试的测试装置，其具备有：测试模组，进行与电子元件之测试讯号的收发；测试头，具有能 |
| 17 | TW200829943 | 校正装置，校正方法以及测试装置 | 2008.07.16 | 本发明的目的是提供一种校正装置，为一种对抖动测定电路进行校正的校正装置，其中，该抖动测定电路是根据输 |
| 18 | TW200829930 | 抖动施加装置、抖动施加方法、测试装置以及通讯晶片 | 2008.07.16 | 本发明的目的是提供一种抖动施加装置，为一种用于生成施加了抖动的输出信号之抖动施加装置，包括：第1振荡 |
| 19 | TW200423648 | 正交调变装置、正交调变方法、程式、记录媒体及调变装置 | 2004.11.01 | 不需停止正交调变之调变动作而进行I(Q)信号之校正。具有输出已加算I(Q)信号与伪杂讯PN之伪杂讯重 |
| 20 | TW200817688 | 元件判断装置、方法、程式、记录媒体及测量装置 | 2008.04.16 | 本发明之反对元件判断装置系可根据已将反射元件分别连接于第1讯号源与第2讯号源之状态下的讯号测量结果, |
| 21 | TW200829937 | 测试装置与测试模组 | 2008.07.16 | 本发明提供一种测试装置，对被测试元件进行测试，该测试装置包括：信号供给部，对被测试元件供给测试信号； |
| 22 | TW495616 | 用于电气测试电子元件之测试装置及方法 | 2002.07.21 | 一种用于电气测试电子元件(待测元件)100之测试装置，包括一个样式记忆体13A，一个样式产生器13， |
| 23 | TWI287083 | 资料传送装置、光电转换电路以及测试装置 | 2007.09.21 | 一种资料传送装置，系利用光传送进行资料通讯，此装置包括发送部及光电转换电路。发送部系将所传送的电通讯 |
| 24 | TW200829936 | 效能板以及盖体部材 | 2008.07.16 | 本发明的目的是提供一种安装在半导体测试装置上并安装有被测试元件的效能板，包括：基板；插座，其安装在前 |
| 25 | TW460698 | 探针卡及其制造方法 | 2001.10.21 | 一种与电子组件接触以测试电子组件之特征的探针卡，其包括：一印刷板，其具有数个第一传输线；一组合板，其 |
| 26 | TW200935075 | 电源电路与测试装置 | 2009.08.16 | 一种电源电路，对电子器件供给电源电力，该电源电路包括：电压控制部，其输出相对于输入电压而以规定的频率 |
| 27 | TW200814076 | 测试装置以及测试方法 | 2008.03.16 | 本发明提供一种测试装置，用以测试多个被测试元件，该测试装置包括资料供给部、写入控制部以及读出控制部， |
| 28 | TW200817702 | 测试装置与控制方法 | 2008.04.16 | 本发明提供一种测试装置,其用于测试被测试元件,此测试装置的特征在于包括:控制处理器,其执行测试被测试 |
| 29 | TW200817693 | 开关装置以及测试装置 | 2008.04.16 | 一种开关装置。此开关装置使第1端子与第2端子之间为电性连接或断开。此开关装置包括:半导体层、汲极电极 |
| 30 | TW200630629 | 测试装置以及测试方法 | 2006.09.01 | 本发明提供一种用来对被测试元件进行测试所用的测试装置，其具备：图样记忆体，其储存着应输出至被测试元件 |
| 31 | TW200736642 | 测试装置、测试方法以及记录媒体 | 2007.10.01 | 本发明提供一种测试装置，用于测试被测试元件，其包括：周期产生器，产生速率信号，该速率信号决定被测试元 |
| 32 | TW200736639 | 测量装置、测量方法、测试装置、测试方法以及电子元件 | 2007.10.01 | 本发明提供一种测量装置，其对被测量信号进行测量且包括比较器、选通时序产生器、撷取记忆体、及数位信号处 |
| 33 | TW200926190 | 测试装置 | 2009.06.16 | 本发明之测试装置包括：多个测试端子P1，…可输入自DUT200输出的多个资料Do1…。多个多工器MU |
| 34 | TW385588 | 对数变换电路 | 2000.03.21 | 一种对数变换电路，其包括:一狭带产生单元，包含一局部振荡器(104)，及一用以接收局部振荡器之输出与 |
| 35 | TW457535 | 图样产生器及电子零件测试装置 | 2001.10.01 | 一种图样产生器，其产生用来测试一电子零件的一测试图样，该图样产生器包括:一图样记忆体，其储存测试图样 |
| 36 | TW478009 | 电子束测试机及影像处理装置 | 2002.03.01 | 一种电子束测试机，其测试电子零件，具有:讯号产生装置(56)，用以提供讯号到电子零件(12)；电子枪 |
| 37 | TW200406092 | 多触发装置,测试装置及调整方法 | 2004.04.16 | 提供一种多触发(multistrobe)装置，包括驱动比较器(drivecomparator)、触发 |
| 38 | TW200533943 | 测试装置与测试方法 | 2005.10.16 | 本发明所属的测试装置具备：图样产生器，其产生一种供给至多个被测试记忆体中的位址信号和资料信号以及产生 |
| 39 | TW358161 | 半导体记忆测试方法及装置 | 1999.05.11 | 一用于储存故障资讯的故障分析记忆体代表一半导体记忆体的测试结果在此测试被区分成多个具微型位址的区块， |
| 40 | TW362191 | 顺序控制电路 | 1999.06.21 | 一种顺序控制电路，设于诸如记忆体测试装置之测试图型产生器，该电路能依据一个测试图型程式的复数支线情况 |
| 41 | TW432234 | 光学讯号传输装置及方法 | 2001.05.01 | 一种可以抑止因温度变化导致电源产生杂讯和电压漂移、以及时序变动(Timing Jitter)与时序漂 |
| 42 | TW492069 | 使用多轴电子透镜之多束曝光装置及半导体元件之制造方法 | 2002.06.21 | 一种电子束曝光装置，系用以曝光一晶圆，其包括：一多轴电子透镜，可以使多个电子束聚焦，而电子束相互间系 |
| 43 | TW526925 | IC测试自动分类机之治具 | 2003.04.01 | 本创作主要系关于一种IC测试自动分类机之治具，包括一收容座，其具有一凹陷空间，藉以收容一欲测试之 I |
| 44 | TW200510740 | 半导体测试系统 | 2005.03.16 | 一种半导体测试系统，包括：向待测元件提供测试信号以进行测试的半导体测试装置、使半导体测试装置与待测元 |
| 45 | TW200537108 | 网路分析器、传送路径测定方法、网路解析方法、程式及记录媒体 | 2005.11.16 | 本发明以减轻为了测定传送路径而选择网路分析器中的二个埠而进行直接连结的劳力。网路分析器具有传送路径决 |
| 46 | TW200405936 | 跳动测量装置以及测试装置 | 2004.04.16 | 本发明提供一种跳动测量装置，用以测量电子器件之输出讯号的跳动，其特征为该装置具备：一多触发讯号生成部 |
| 47 | TW200510743 | 试验装置 | 2005.03.16 | 本发明提供一种试验装置，用于试验电子元件，此试验装置包括：多个测试模组、多个返回电路、多个汇总部与多 |
| 48 | TW364105 | 影像资料处理方法及影像资料处理装置 | 1999.07.11 | 一影像资料处理方法，可被用来精确地检测在一多值数位影像资料输入中含有非常低对比性且不均匀亮度的带状影 |
| 49 | TW434873 | 电流测量方法及电流测量装置 | 2001.05.16 | 一种电流测量方法，其测量一个元件的电流，此电流流经一个半导体元件的端点，包括之步骤为:连接一个电容器 |
| 50 | TW200304257 | 连接器拆接用治具 | 2003.09.16 | 本发明揭示一种连接器拆接用治具，即使在具有多数个连接器的情况下，也可同时容易且确实地嵌拆所有连接器。 |
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